• Микроскоп ЭМР-110К - внешний вид

Микроскоп ЭМР-110К

Average: 9 (2 votes)
Под заказ

Связаться с менеджером

Микроскоп ЭМР-110К предназначен для структурных исследований кристаллической структуры веществ методом дифракции электронов в кристаллографии, металловедении, геологии, химии и других областях науки и техники.

Преимущества

  • исследование тонких объектов (пленки и порошки) толщиной до 1000 Å на «просвет»;
  • исследование массивных объектов (шлифы) на «отражение»;
  • регистрация дифракционных картин на плоской фотопленке или пластинах многоразового использования;
  • регистрация интенсивностей рефлексов, получение гистограмм на экране монитора компьютера с возможностью отсева атомного и некогерентного фона на электронограммах с помощью электронного фильтра;
  • проведение вышеуказанные исследования при нагреве и охлаждении объектов;
  • развертка дифракционных картин по радиусу (с возможностью поворота направления развертки до 90°) и по спирали (с возможностью остановки развертки в любой точке дифракционной картины);
  • возможность измерения тока зонда на смотровом экране (цилиндром Фарадея);
  • отображение информации о состоянии прибора на дисплее компьютера.
Технические характеристики
Разрешающая способность Δd, nm
при d=0,1 nm и L= 600 mm		 0,0002
Дифракционный индекс (δ 3 /L) (7÷8)×10 -5
Ускоряющее напряжение, kV
со ступенями регулировки, kV		 25 … 100
0,05; 1; 5
Перемещение объекта
  • перемещение по XY, mm
  • вращение вокруг Z, °
  • наклон вокруг оси Y, °
  • количество объектов в держателе на просвет
  • количество объектов в держателе на отражение
  • размер тонкого объекта, Ø, mm
  • размер шлифа, mm
 ±10,0
360
±45
7
1
6
10×10×3
Угол отклонения дифракционной картины
отклоняющей системой развертки, °		 ±7
Нагрев держателя тонкого объекта, °С до 900
Охлаждение держателя тонкого объекта, °С -150
Фотокамера
  • размер фотопленки, mm
  • количество кассет в фотомагазине
 90×120
20
Пределы измерения тока зонда цилиндром Фарадея, А 10 -9 … 10 -12
Длительность развертки дифракционной картины, s 10 — 180
Фильтр электронов для отсева атомного и некогерентного фона на дифракционной картине:
  • рабочие напряжения фильтра, кV
  • полоса пропускания фильтра, eV
  • шум фильтра, ррs, не более

25, 50, 75
0 … 10
700
Остаточное давление, mm Hg, не более
  • в объеме электронной пушки
  • в объеме дифракционной камеры
  • в объеме фильтра электронов
 5×10 -6
1×10 -5
5×10 -6
Напряжение питания (1 фаза), V
частота, Hz		 220
50/60
Потребляемая мощность, кVА, не более 4,0
Габаритные размеры, mm, не более Колонна
со стендом		 Высоковольтный
источник
  • длина
  • ширина
  • высота
 1350
1900
2000		 830
400
750
Общая масса электронографа, kg, не более 1500