• Микроскоп ПЭМ-125К - общий вид

Микроскоп ПЭМ-125К

Average: 9 (2 votes)
Под заказ

Связаться с менеджером

Микроскоп ПЭМ-125К позволяет исследовать микроструктуру и фазовый состав объектов в нанотехнологиях, материаловедении, кристаллографии, геологии, микроэлектронике, биологии, медицине и др. областях, наблюдать и фотографировать изображение объектов в широком диапазоне увеличений, получать дифракционные картины, исследовать объекты при их наклоне и вращении с помощью гониометрического устройства.

Опции

  • система энергодисперсионного рентгеновского микроанализа;
  • комплект дифракционных приставок для исследования объектов в режиме дифракции высокого разрешения, в том числе с нагревом объекта до 800 °C и охлаждением до -120 °C;
  • держатель объектов с двойным наклоном;
  • держатель с вращением объектов;
  • системы анализа изображения;
  • автономная система водяного охлаждения.
Технические характеристики
Параметры Тип полюсного наконечника
БН ВР ВК
Разрешающая способность, nm
  • по кристаллической решетке
  • по точкам
 0,2
0,37		 0,14
0,35		 0,34
0,45
Диапазон электронно-оптических увеличений, × 50 ... 1000000
31 ступень		 50 ... 1300000
31 ступень		 50 ... 800000
31 ступень
Максимальный угол наклона объекта гониометром, ° ±60 ±15 ±15
Ускоряющее напряжение, kV
со ступенями регулировки, kV		 25 ... 125
0,05; 1; 5
Длина дифракционной камеры, mm 100 ... 5000
11 ступеней		 80 ... 3500
11 ступеней		 120 … 6000
11 ступеней
Угол наклона электронного пучка на объекте, ° 4
Напряжение питания (3 фазы), V
частота, Hz		 220
50/60
Потребляемая мощность, kVA, не более 5,5
Габаритные размеры, mm,
не более		 Колонна
со стендом		 Шкаф питания Высоковольтный
источник
  • длина
  • ширина
  • высота
 1220
2100
2000		 610
400
840		 430
610
900
Общая масса микроскопа ПЭМ-125К, kg, не более 1700

Преимущества

  • помехоустойчивая система управления прибором с использованием промышленного компьютера;
  • высокое разрешение по кристаллической решетке и по точкам;
  • высокое качество электронно-микроскопических изображений;
  • наличие трех режимов работы: большой угол наклона объекта (БН), высокое разрешение (ВР), высокий контраст для медико-биологических объектов (ВК);
  • высокая виброустойчивость;
  • безмасляная откачка колонны;
  • 4-х линзовый проекционный блок с компенсацией поворота изображения и микродифракционной картины;
  • наличие вобблеров юстировки микроскопа и фокусировки изображения;
  • полностью автоматизированная фоторегистрация электронно-микроскопических изображений на фотопленку размером 60×90 mm;
  • отображение информации о состоянии прибора на дисплее компьютера.